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高度计的结构原理

更新时间:2018-12-12点击次数:6302
 高度计是用来测量物体水平高度,即海拔的工具。高度的测量被称为测高,与测深,即测量水下深度类似。有测量精度高、性能稳定、重复性好等特点。高度计可广泛适用于产品计量、多点检测、测量设备监测和位置测量等众多领域,对长度、间距、厚度、高度或直线位移进行准确的测量。
结构原理/高度计 
仪器包括高精度光栅装置、密珠导轨的测量杆装置、高性能的高速采样等。 多型号高度计高度计采用精度光栅作为测量基准,选用玻璃基体的增量式光栅尺,所以测量支持大测量范围,对震动和冲击不敏感,并具有确定的温度特性。
增量光栅尺的扫描方法为光电扫描,因此无机械接触也无磨损。电子设备对输出信号进行细分至纳米级的极小测量步距,从而确保一个信号周期内微小位置误差。
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